Die Technik des Siemens-Übermikroskops

By Dr.-Ing.B. v. Borries und Dr.-Ing. E. Ruska

Siemens & Halske Laboartorium für Elektronenoptik

Siemens Zeitschrift

20 Jahrgang Berlin, November/Dezember 1940 Heft 6

pages 217 - 227

(German language, 1.8 MB, pdf)

 

E. Ruska received, for his scientific work on electron-optics, his Nobel Prize in 1986. The Siemens company was, in the 1930s, one of the leading firms on "Electron Microscopes". The Germans called it an "Übermikroskop", which may be translated in "overprecise or over-scaled" microscope. Worlds first electron microscope had been constructed by Knoll and Ruska, in 1931.

After the Germans had surrendered in May 1945, the three conquering powers: Britain, America and Russia, started a hunt to capture valuable German technical achievements. According to some source, Britain captured 6 Siemens Electron-Microscopes . One is now on display in the London Science Museum. It was nicknamed  the "bathtub".

According to the British BIOS report 1671, page 3: Siemens electron microscopes gave a brighter image than the RCA apparatus. The price of the 100 kV type (complete installation) was 96,000 RM. This document figures, that 40 high resolution apparatus had been manufactured by Siemens. 

 

Keywords:

Physikalische Grundlagen.., Das Auflösungsvermögen des Lichtmikroskops ist bekanntlich durch die Wellenlänge des Lichtes begrenzt und kann bei der Verwendung sichtbaren Lichtes für gitterförmige Strukturen mit etwa 0,2 : = 200 m: angesetzt werden.., Schematischer Strahlengang des lichtoptischen Projectionsmikroskops und des Übermikroskops.., Kathoden strahlen.. Wiechert 1899 .. Rankin 1905 .. Wehnelt 1906.., Beweis für Linseneigenschaften ... Busch 1926, 1931 bauten Knoll und Ruska das erste Elektronenmikroskop, Siemens-Übermikroskop nach Ruska und v. Borries Versuchsgerät.., Aufbau des Siemens-Übermikroskops.., Der Vakuumkörper des Übermikroskops muß wegen der ..., Schematischer Schnitt durch den Bestrahlungsteil.., Teile des Elektronenstrahlrohres.., Kondensatorspule.., Schematischer Schnitt durch die Objektscheuse.., Schematischer Schnitt durch die Objectverschiebung.., Objektivspule mit Objektivetubus.., Ansicht des Projektivs.. Ansicht der PLattenschleuse.., Vakuumeinrichtung im Hohlständer.., Schutzwanne mit Hochspannungskasten.., Das Arbeiten mit dem Übermikroskop.., Einstellen des Elektronenstrahls.., Scharfstellen des Bildes.. Absuchen des Objekts und Aufnahme.., Wechsel von Objekt und Platte..

 

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